microscopie capacitive à balayage
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Définitions :
Microscopie dérivée de la microscopie à force atomique, dans laquelle on obtient l'image d'un matériau semi-conducteur à partir des variations de capacité qu'on observe entre la surface d'un échantillon et la pointe d'une sonde lorsque cette dernière, qu'on soumet à un courant alternatif, balaie la première.
Termes privilégiés :
- microscopie capacitive à balayage n. f.
- microscopie capacitive n. f.
- microscopie de capacité à balayage n. f.
- microscopie de capacité n. f.
Traductions
-
anglais
Auteur : Office québécois de la langue française,Termes :
- scanning capacitance microscopy
- SCM