spectrométrie de masse des ions secondaires à temps de vol
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Définition :
Technique de spectrométrie utilisée pour déterminer la nature d'un matériau, qui consiste à créer d'abord des ions secondaires à la surface d'un échantillon en la bombardant d'ions primaires, à accélérer ensuite à l'aide d'un champ électrique d'intensité égale la vitesse des ions éjectés et à analyser enfin ceux-ci en calculant le temps qu'ils mettent dès lors pour se rendre à un détecteur, et qui varie en fonction de la masse et de la charge de chacun.
Note :
Plusieurs termes peuvent être utilisés en français pour désigner ce concept. Nous n'avons retenu que les principaux. Il est possible par exemple de former les syntagmes à partir de spectroscopie au lieu de spectrométrie. On constate également en anglais que spectroscopy peut être mis à la place de spectrometry.
Termes privilégiés :
- spectrométrie de masse des ions secondaires à temps de vol n. f.
- spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol n. f.
- spectrométrie de masse des ions secondaires par temps de vol n. f.
- spectrométrie de masse d'ions secondaires par temps de vol n. f.
- spectrométrie SIMS à temps de vol n. f.
- spectrométrie SIMS par temps de vol n. f.
Traductions
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anglais
Auteur : Office québécois de la langue française,Termes :
- time-of-flight secondary-ion mass spectrometry
- TOF-SIMS
- time-of-flight SIMS
- TOF secondary-ion mass spectrometry