Microscòpia de camp proper mitjançant la qual s'bté la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que capta les forces de repulsió o d'atracció dels electrons amb l'objectiu de mesurar les variacions dimensionals de l'estructura o manipular les partícules de matèria.  

Microscòpia de camp proper mitjançant la qual s'bté la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que capta les forces de repulsió o d'atracció dels electrons amb l'objectiu de mesurar les variacions dimensionals de l'estructura o manipular les partícules de matèria.  

Microscopía de barrido con sonda que permite generar la imagen con resolución atómica y molecular de muestras no conductoras o biológicas a partir del registro de la deflexión de la sonda producida por las fuerzas de repulsión y atracción de la nube electrónica entre la sonda y la superficie de la muestra, para obtener información acerca de su topografía o crear nuevas estructuras moviendo átomo por átomo.   [-]

Microscopía de barrido con sonda que permite generar la imagen con resolución atómica y molecular de muestras no conductoras o biológicas a partir del registro...  [+]

Microscopia che permette di acquisire immagini di superfici con risoluzione dell'ordine del nanometro; il principio su cui si basa questa tecnica consiste nell'effettuare la scansione del campione per mezzo di una sonda meccanica costituita da una punta posta all'apice di una leva flessibile; per mezzo della deflessione della leva è possibile ricostruire la morfologia superficiale del campione.  

Microscopia che permette di acquisire immagini di superfici con risoluzione dell'ordine del nanometro; il principio su cui si basa questa tecnica consiste nell'effettuare la scansione del campione per mezzo di una sonda meccanica costituita da una punta posta all'apice di una leva flessibile; per mezzo della deflessione della leva è possibile ricostruire la morfologia superficiale del campione.  

Tehnica de microscopie care asigura caracterizarea suprafetelor (rugozitate/structura) bazata pe fortele de atractie/respingere a electronilor la proximitatea de cativa nanometri a unui varf de dimensiuni nanometrice (de obicei <10nm.) care exploreaza suprafata. Este utilizabila si pentru tehnici avansate de nanolitografie (obtinerea de geometrii nanometrice pe suprafata).  

Tehnica de microscopie care asigura caracterizarea suprafetelor (rugozitate/structura) bazata pe fortele de atractie/respingere a electronilor la proximitatea de cativa nanometri a unui varf de dimensiuni nanometrice (de obicei <10nm.) care exploreaza suprafata. Este utilizabila si pentru tehnici avansate de nanolitografie (obtinerea de geometrii nanometrice pe suprafata).