Microscopi de camp proper que permet obtenir la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que crea un feix d'electrons per efecte túnel, el qual serveix d'instrument de mesura de les variacions dimensionals de l'estructura o permet manipular les partícules de matèria.  

Microscopi de camp proper que permet obtenir la imatge d'una mostra amb resolució a escala nanomètrica en rastrejar-ne la superfície, a uns nanòmetres de distància, amb una sonda que crea un feix d'electrons per efecte túnel, el qual serveix d'instrument de mesura de les variacions dimensionals de l'estructura o permet manipular les partícules de matèria.  

Microscopio de barrido con sonda de punta conductora muy afilada que ubicada a unos pocos nanómetros de la superficie de una muestra conductora, produce por efecto túnel una minúscula corriente cuyo registro se traduce en una imagen digital tridimensional con resolución atómica y molecular de la superficie del material y permite manipular átomos para construir materiales con propiedades novedosas.     [-]

Microscopio de barrido con sonda de punta conductora muy afilada que ubicada a unos pocos nanómetros de la superficie de una muestra conductora, produce...  [+]

Questo particolare tipo di microscopio consente di analizzare la superficie di un campione conduttore o semiconduttore drogato utilizzando, come sensore, una punta cresciuta su di un cristallo singolo di tungsteno e rastremata alla sommità fino allo spessore di un singolo atomo: a questa punta, posta ad una distanza molto ravvicinata dal campione, viene applicata una piccola tensione rispetto al campione data la particolare conformazione del sensore, si ha la certezza che gli elettroni fluiranno tutti dalla punta verso il campione per effetto tunnel.   [-]

Questo particolare tipo di microscopio consente di analizzare la superficie di un campione conduttore o semiconduttore drogato utilizzando, come sensore, una punta cresciuta su di un cristallo singolo di tungsteno...  [+]

Poiché la corrente varia con la distanza della punta del sensore dalla superficie del campione, è possibile tramite un processo di retroazione mantenere costante tale distanza, muovendo la punta sull'asse ortogonale alla superficie del campione con la precisione garantita da un attuatore piezoelettrico. Effettuando quindi una scansione su tutta la superficie del campione e registrando punto per punto i valori della corrente, è possibile ricostruirne un modello tridimensionale.   [-]

Poiché la corrente varia con la distanza della punta del sensore dalla superficie del campione, è possibile tramite un processo di retroazione mantenere costante tale distanza, muovendo...   [+]