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Fiche terminologique

FICHE TERMINOLOGIQUE

Interrogation 
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spectromètre de masse des ions secondaires à temps de vol

Domaines

physique > métrologie

physique > spectroscopie

nanotechnologie

Auteur

Logo identifiant une fiche rédigée par l’Office québécois de la langue française Office québécois de la langue française, 2009

Définition

Spectromètre de masse utilisé pour déterminer la nature d'un matériau, qui crée d'abord des ions secondaires à la surface d'un échantillon en la bombardant d'ions primaires, qui accélère ensuite à l'aide d'un champ électrique d'intensité égale la vitesse...  [+]

Note

Plusieurs termes peuvent être utilisés en français pour désigner ce concept. Nous n'avons retenu que les principaux. Il est possible par exemple de former les syntagmes à partir de spectroscope au lieu de spectromètre. On constate également en anglais que spectroscope peut être mis à la place de spectrometer.  

Termes jugés adéquats pour désigner le concept à l’intérieur d’un domaine spécialisé, conformes au système linguistique du français ou acceptables en vertu des politiques officielles de l’Office

Termes privilégiés

spectromètre de masse des ions secondaires à temps de vol   n. m.

spectromètre de masse d'ions secondaires à temps de vol   n. m.

spectromètre de masse des ions secondaires par temps de vol   n. m.

spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol   n. m.

spectromètre SIMS à temps de vol   n. m.

spectromètre SIMS par temps de vol   n. m.

Anglais

Auteur

Logo identifiant une fiche rédigée par l’Office québécois de la langue française Office québécois de la langue française, 2009

Termes

time-of-flight secondary-ion mass spectrometer   

TOF-SIMS   

time-of-flight SIMS   

TOF secondary-ion mass spectrometer